平均粒度測(cè)試儀/平均粒度檢測(cè)儀 型號(hào)：DP-WLP-209

DP-WLP-209型平均粒度測(cè)試儀根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)（費(fèi)氏法）要求，在對(duì)被測(cè)粉末試樣施壓時(shí)，采用了可設(shè)定空轉(zhuǎn)式扭矩起子，。采用LTDK型扭矩起子，可使操作人員在對(duì)粉末測(cè)試過(guò)程中均可達(dá)到相同的壓制力，得到種孔隙度，消除了人為誤差，使被測(cè)粉末粒徑，同時(shí)本儀器配有雙向擴(kuò)展讀數(shù)板，孔隙度范圍由原來(lái)的0.80—0.40（擴(kuò)到0.95—0.80、擴(kuò)到0.40—0.25），滿(mǎn)足了多種粉末測(cè)試需求。

術(shù)標(biāo)：

1、度：±3%
2、測(cè)試范圍： 0.2-50 μ m （微米）
　　 檔： 0.2-20 μ m
　　 二檔： 20-50 μ m
3.孔隙度范圍：0.95－0.80
　　　　　　　0.80－0.40
　　　　　　　0.40－0.25
4、準(zhǔn)度：±3%
5、環(huán)境濕度：相對(duì)濕度 ≤80%
6、環(huán)境溫度： 25 ± 10 ℃
7、電源： ～220 ± 22V 50赫茲
8、率： 25W
9、重量： 18kg
10、外型尺寸： 746 × 394 × 240mm3